ALTA PERFORMANCE PARA SUA EMPRESA

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Hitachi

“A Hitachi é líder de mercado em MEV de Bancada para uma ampla gama de aplicações, e com o novo TM4000 II estende o sucesso de seus antecessores, com melhor qualidade de imagem e contraste superior. Características melhoradas na óptica de elétrons, maior ampliação, e novo mecanismo interno de processamento de imagens para melhorar ainda mais a qualidade de imagem e resolução em baixa tensão de aceleração. Trabalha em 5kV, 10kV, 15kV e 20kV, simplificando a configuração de uso; Compacto, com uma ampliação suave de até 100.000x; Imagens topográficas com uma grande profundidade de foco; Nenhuma preparação da amostra é necessária, mesmo para grandes amostras ou amostras não condutivas; Função de visualização, medição e imagem 3D (opcional).

Além dos MEVs de Bancada, a Hitachi possui imenso portfolio em microscopia eletrônica nas mais variadas técnicas: MEV de bancada, MEV compacto, MEV convencional, FEG, COLD-FEG, MET, STEM, FIB, AFM e preparadores de amostra como Ion Milling e limpadores de amostra por UV. Os equipamentos da Hitachi aliam qualidade de imagem incomparável, robustez e facilidade de uso, mesmo nos modelos Ultra-High Resolution (UHR).”

A nova série de AFM da Hitachi HHS traz precisão, qualidade, confiabilidade e praticidade em sua operação e manutenção, permitindo uma variedade de análises numa mesma plataforma. Novo sistema de aproximação da ponteira e nova óptica, garante alta resolução em escala nanométrica, estabilidade térmica e precisão de posicionamento por horas. Possui diversos modos de operação, tais como AFM, MFM, PM, DFM, resposta piezo elétrica, KFM, STM, EC-AFM/STM, nanoindentação, nano-thermal, VE-AFM/DFM (viscoelasticidade) e outros. Possui ainda modelos para amostras de até 8 polegadas, análises em condições atmosféricas diversas (vácuo, líquidos) bem como modelo didático e para rotinas laboratoriais. Todos os modelos são controlados pelo AFM 5000 e AFM 5010, controladores de uso simples e versátil, com funções automáticas de ajuste e medidas software interativo.

O novo DSC da Hitachi HHS, XDSC7000, possui um novo forno e sensor de qualidade superior que proporciona insuperável sensibilidade e repetibilidade em análises DSC. Com isso, é possível alcançar resultados de extrema precisão e confiabilidade, sendo ideal para diversas aplicações, suas pesquisas e controle de qualidade. Com seu novo sensor com múltiplos termopares, garante alta sensibilidade e precisão na faixa de temperatura de -170°C até 725°C. Seu novo forno, com baixa massa, garante maior estabilidade em linha base, bem como alta taxa de resfriamento, permitindo análises de ‘‘Quenching’’ in situ. Possui acessório de fotocalorimetria e observação em tempo real, que permite acoplamento de um miscroscópio ao seu DSC, bem como controlador de gás automático para 2 gases, auto amostrador de 50 posições, tudo isso associado com excelente desempenho e estabilidade.

A Hitachi HHS apresenta a série de TG/DTA 7000, seus mais avançados equipamentos para termogravimetria. Com forno horizontal, com termopar duplo e dupla balança, permite maior versatilidade de análises, combinando técnica TGA e DTA simultaneamente, bem como acoplamento de outras técnicas (MS e FTIR), com análises de temperatura ambiente até 1500ºC, linha base estável, com baixo ruído e alta sensibilidade. Possui controlador de fluxo de purga automático, para rápida troca de gás de purga e atmosfera. Forno de baixa massa para rápida refrigeração e alta capacidade de análises e novo sistema de controle de temperatura para precisão incomparável. Possui amostrador de 50 posições e janela de observação em tempo real, permitindo acoplar um microscópio ao equipamento, agregando mais qualidade em suas pesquisas e controle de qualidade.

A série TMA/SS 7000 traz ao mercado o que há de mais inovador em análises termo-mecânicas. Com sua nova tecnologia ‘‘z-stabilizer’’, reduz drasticamente o nível de ruído, alcançando maior sensibilidade e precisão em suas análises. Com controle total da atmosfera da amostra, permite análises em diversas condições de temperatura (-170°C até 600°C e temperatura ambiente até 1500°C), de umidade e sob vácuo. Seu acessório de refrigeração por N2 líquido é 40% mais econômico e permite maior eficiência em seu laboratório. Com diversos tipos de porta amostras, é possível medir ampla gama de amostras, incluindo filmes finos e amostras pequenas, sem restrição de formato, em modos de compressão, penetração e tração com medida automática do tamanho da amostra.

O DMS 7100 é sua solução ideal para medidas viscoelásticas, com simplicidade, rapidez e excelente precisão. Seu software intuitivo permite fácil aprendizado em sua operação. Com um monitor, usando curva de Lissajous, permite monitoramento ponto a ponto da deformação da amostra, garantindo a qualidade do resultado. Com o modo de observação em tempo real, permite analisar os resultados com a imagem da amostra para maior e melhor entendimento de suas análises acompanhando as transições e a deformação da amostra também por imagens. Seu acessório de resfriamento é 30% mais econômico e garante excelente estabilidade em baixas temperaturas.

Sistema Modular de Termogravimetria Simultâneo (TG) e análise Térmica Diferencial (DTA) com Calorimetria Exploratória Diferencial (DSC) de alta performance. A série NEXTA STA incorpora uma nova tecnologia de controle de balança, que acoplado ao sistema de feixe duplo horizontal dos nossos modelos anteriores tornou a série NEXTA com a melhor estabilidade da linha base do

A linha de fluorescência de Raio X (XRF) da Hitachi traz o que há de mais revolucionário em análise RoHS e medidas de espessura. Seu detector de alta contagem e a seco permite análises de amostras com mapeamento ultra rápido, medidas de multi-ponto continuamente, alta precisão espacial, medidas de espessura microscópicas, inspeção de metais pesados

A série de AFMs da Hitachi traz precisão, qualidade, confiabilidade e praticidade em sua operação e manutenção, permitindo uma grande variedade de análises numa mesma plataforma. Através da função Auto Tuning, o microscópio de força atômica é capaz de monitorar a topografia da amostra, área de varredura e cantilever, determinando automaticamente a melhor condição de

O ZONECleaner é uma ferramenta fácil de usar, para remover a contaminação por hidrocarbonetos em amostras de microscopia eletrônica, garantindo as melhores informações possíveis de suas amostras para SEM ou TEM. As superfícies da amostra são inevitavelmente contaminadas com hidrocarbonetos devido à preparação ou armazenamento da amostra. O ZONECleaner Limpador/Dessecador, remove suavemente essa contaminação para

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