Espectrofotômetro UV-Vis de feixe único. Nossos espectrofotômetros UV-Vis feixe único são econômicos e geram resultados precisos utilizando qualquer método analítico UV-Visível. Possui componentes e sistemas de alta qualidade que permitem resolução, precisão e reprodutibilidade superiores. Especifique a configuração do método usando controles simples do teclado integrado ou do computador. Visualize gráficos espectrais no painel LCD.

Os laboratórios de pesquisa e rotina com os mais altos padrões de eficiência e detecção se beneficiam com as soluções do espectrômetro de massas com plasma indutivamente acoplado (ICP-MS) da série PlasmaQuant MS de três maneiras: a melhor sensibilidade do mercado, maior rendimento de amostra e menor custo por amostra. Esses três benefícios se combinam

O Sistema de polimento através de feixe de íons (Ion Milling) IM4000Plus utiliza um método de polimento através de feixe de íons Ar+ amplo e de baixa energia para fazer seção transversal mais ampla e sem distorção ou polimento de superfícies, sem aplicar tensão mecânica à amostra. O Ion Milling da Hitachi oferece duas configurações

O mais avançado sistema de polimento por feixe de íons ArBlade 5000 para a produção de seções transversais ou amostras planas de alta qualidade para microscopia eletrônica. CARACTERÍSTICAS Taxa de polimento de seção transversal: 1 mm/hora O Sistema de polimento por feixe de íons ArBlade 5000 é equipado com um canhão de íons de Ar