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TM4000 II / TM4000PLUS II – MEV DE BANCADA COM PRESSÃO VARIÁVEL

TM4000 II / TM4000PLUS II – MEV DE BANCADA COM PRESSÃO VARIÁVEL

O futuro do MEV de Bancada está aqui!

A série do MEV de Bancada TM4000 apresenta inovação e tecnologia de ponta que redefinem os recursos de um microscópio eletrônico de bancada. Essa nova geração do MEV de bancada da Hitachi integra facilidade de uso, alta qualidade de imagem e o design compacto dos produtos já estabelecidos da série Hitachi TM.

Experimente a nova dimensão do MEV de bancada com o Hitachi TM4000 II e TM4000Plus II.

  

Recursos de MEV de bancada

Uma imagem de qualidade pode ser obtida com etapas simples.

 

Automação, Observação e Análise Elementar

Alterne imagens facilmente através de um clique.

Mixed image

 

Aquisição rápida de mapas elementares *2

EDS Map

Amostra: Movimento do relógio

* 1   Imagens de elétrons secundárias e imagens tipo MIX só podem ser observadas no TM4000Plus II

* 2  Opcional

 

Operação intuitiva no Camera Navi *

O uso de imagens ópticas ajuda a navegar pela amostra para encontrar a área de interesse de observação facilmente.

As imagens obtidas por MEV podem ser colocadas em camadas em uma imagem SEM MAP.

SEM MAP

Amostra: engrenagem de relógio

* Opcional: Sistema de Navegação por Câmera

 

Criador de relatórios

Basta selecionar imagens e um modelo para criar relatórios personalizados.

Os relatórios criados podem ser salvos / editados nos formatos Microsoft Office®.

Report Creator

 

Várias aplicações de geração de imagens usando baixo vácuo.

Modo de redução de carga

O MEV de bancada é simples de usar, e a carga na amostra pode ser reduzida de forma automática com apenas um clique!

 

Charge-up Red Mode - Recycled Paper

Faça imagens de uma variedade de materiais sob condições de baixo vácuo com o MEV de bancada

As imagens mostram observações de amostras não condutoras, como partículas de toner de tinta e a superfície hidratada de uma folha.

Modo de redução de carga

 

Detector de elétrons secundários inovador para obter detalhes da superfície de amostras não condutoras em condições de baixo vácuo

O TM4000Plus II pode observar amostras condutoras e amostras não condutoras ou hidratadas sem preparação da amostra. A alternância entre BSE e SE pode ser realizada facilmente.

 

Detector SE de baixo vácuo e alta sensibilidade (UVD)

O UVD da Hitachi gera imagens de elétrons secundários, detectando a luz visível excitada pelas interações dos gases e elétrons.

UVD Detector Principle

 

UVD Detector (SE vs BSE)

 

Vantagens da tensão de aceleração de 20 kV

A alta tensão de aceleração permite análises EDS de alta velocidade.

Dados de mapeamento EDS a 20 kV em 2 min

Amostra: Componentes eletrônicos

 

Multi Zigzag

Uma função que captura várias imagens de alta ampliação e as une para criar uma única imagem de alta resolução.

 

Multi Zigzag

  • Amostra: Japanese ancient coin
  • Tensão de Aceleração: 15 kV
  • Sinal de imagem: SE
  • Magnificação: 30x
  • Campo de visão: 10 verticalmente × 12 horizontalmente
    (algumas partes foram cortadas)

 

Suporte STEM (Opção)

Obtenha facilmente imagens de transmissão de amostras ultrafinas

O suporte STEM recentemente desenvolvido pode ser utilizado na obtenção de imagens de transmissão utilizando o detector Hitachi UVD.

STEM principle

 

STEM example - abrasive

  • Amostra: Abrasivo
  • Tensão de Aceleração: 20 kV
  • Sinal de imagem: (a) STEM, (b) BSE
  • Magnificação: 10,000 x

* UVD é uma função do TM4000Plus II.

 

STEM examples

 

Para conhecer outros microscópios da Hitachi, clique aqui.

 

Quer saber mais sobre outros assuntos? Acesse nosso blog!

Item TM4000Plus II TM4000 II
Magnificação ×10~×100,000 (Magnificação Fotográfica)
×25~×250,000 (Magnificação Display)
Tensão de Aceleração 5 kV, 10 kV, 15 kV, 20kV
Sinal de Imagem Elétrons retroespalhados (BSE)
Elétrons secundários (SE)
Mix (Elétrons retroespalhados + Elétrons secundários)
Elétrons retroespalhados (BSE)
Modo de Vácuo BSE: Condutor/Padrão/Redução de carga
SE: Padrão/Redução de carga
Mix: Padrão/Redução de carga
BSE: Padrão/Redução de carga
Movimentação do Estágio X: 40 mm Y: 35 mm
Tamanho Máximo da Amostra 80 mm (diâmetro) , 50 mm (espessura)
Canhão de Elétrons Cartucho filamento pré-centralizado
Sistema de Detecção de Sinal BSE: Detector de 4 segmentos de alta sensibilidade
SE: Detector de baixo vácuo de alta sensibilidade
BSE: Detector de 4 segmentos de alta sensibilidade
Sistema de vácuo Bomba Turbo molecular: 67 L/s x 1 unit
Bomba Diafragma: 20 L/min
Tamanho / Peso Unidade Principal:
330 (largura) × 614 (profundidade) × 547 (altura) mm, 54 kg (estágio motorizado)
330 (largura) × 617 (profundidade) × 547 (altura) mm, 54 kg (estágio manual)
Bomba diafragma: 144(largura) × 270 (profundidade) × 216 (altura) mm, 5,5 kg

 

MEV de bancada HITACHI TM4000Ⅱ/ TM4000PlusⅡ

BSE - SE - MIX

Multi Zigzag Images

STEM example 1

STEM example 2

UVD Detector vs BSE (BSE)

UVD Detector vs BSE (SE)

UVD Detector vs BSE (BSE)

UVD Detector vs BSE (UVD-CL)

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