A linha de fluorescência de Raio X (XRF) da Hitachi traz o que há de mais revolucionário em análise RoHS e medidas de espessura. Seu detector de alta contagem e a seco permite análises de amostras com mapeamento ultra rápido, medidas de multi-ponto continuamente, alta precisão espacial, medidas de espessura microscópicas, inspeção de metais pesados
Se busca mais precisão, qualidade, confiabilidade e praticidade em sua operação e manutenção, conte com a série de AFMs da Hitachi. Além desses benefícios, a ferramenta também permite que tenha uma grande variedade de análises em uma única ferramenta. Diferenciais do equipamento O equipamento possui a função Auto Tuning. Sendo assim, ele é capaz de
O ZONECleaner é uma ferramenta fácil de usar, para remover a contaminação por hidrocarbonetos em amostras de microscopia eletrônica, garantindo as melhores informações possíveis de suas amostras para SEM ou TEM. As superfícies da amostra são inevitavelmente contaminadas com hidrocarbonetos devido à preparação ou armazenamento da amostra. O ZONECleaner Limpador/Dessecador, remove suavemente essa contaminação para
O ArBlade 5000 com Feixe de Ion Ar tem uma taxa duas vezes mais rápida para alto desempenho, reduzindo drasticamente o tempo de processamento da preparação do “Cross-Section”. O IM4000 tem duas configurações em um único instrumento, “Cross-Section” e “Flat Milling” trocando apenas o Porta Amostras. O IM4000Plus, refrigeração ativa do Estágio de Amostras para