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TÉCNICAS

Espectrômetro de Fluorescência de Raio X (XRF)

A linha de fluorescência de Raio X (XRF) da Hitachi traz o que há de mais revolucionário em análise RoHS e medidas de espessura. Seu detector de alta contagem e a seco permite análises de amostras com mapeamento ultra rápido, medidas de multi-ponto continuamente, alta precisão espacial, medidas de espessura microscópicas, inspeção de metais pesados

Agora, você pode obter análises elementares não destrutivas avançadas com a flexibilidade para trabalhar em uma ampla gama de tipos e formas de amostra. Existe uma preparação mínima da amostra. Não é necessário nenhum revestimento. Os analisadores uXRF incorporam detecção rápida e simultânea de raios-X de vários elementos com a sensibilidade para análise de partes