TUDO O QUE VOCÊ PRECISA

PRODUTOS

Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM) SU3800SE

Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM) SU3800SE

O microscópio eletrônico de varredura SU3800SE da Hitachi High-Tech é uma solução avançada para análises de alta resolução em materiais micro e nanométricos. Ele foi projetado para atender às demandas de pesquisa científica, nanotecnologia e controle de qualidade industrial. Combinando tecnologia de ponta e um sistema automatizado, oferece imagens detalhadas e precisão nos resultados.

Além disso, o SU3800SE conta com ampliação de até 600.000×, permitindo a observação detalhada de diversas amostras. Seu modo de pressão variável possibilita a análise de materiais não condutores sem necessidade de revestimento metálico. Dessa forma, o processo se torna mais eficiente, reduzindo etapas preparatórias.

Outro diferencial é o estágio motorizado de cinco eixos, que permite um posicionamento preciso da amostra. Assim, torna-se possível capturar imagens sob diferentes ângulos. Essa funcionalidade é essencial para laboratórios acadêmicos, centros de pesquisa e indústrias de alta tecnologia que necessitam de análises avançadas de materiais.

Para ampliar sua versatilidade, o microscópio eletrônico SU3800SE é compatível com diversos detectores de alta sensibilidade, como elétrons secundários (SED), elétrons retroespalhados (BSED) e detector de pressão variável (UVD). Além disso, pode ser integrado a um espectrômetro de energia dispersiva (EDS) e a um detector de difração de elétrons retroespalhados (EBSD) (opcionais). Dessa maneira, possibilita análises químicas mais detalhadas.

Por fim, o SU3800SE une alta resolução, automação e flexibilidade. Dessa forma, atende às necessidades de pesquisadores e profissionais que buscam resultados confiáveis e imagens detalhadas para investigações e processos industriais.

Entre em contato para mais informações e descubra como o SU3800SE pode contribuir para suas análises com excelência.

Saiba mais: https://www.hitachi-hightech.com/global/en/products/microscopes/sem-tem-stem/fe-sem/su3800-3900_se.html

Principais Características do SU3800SE

  • Resolução de até 0,9 nm a 30 kV para imagens detalhadas
  • Modo de pressão variável para análise de amostras não condutoras
  • Ampliação de até 600.000× para inspeções ultra detalhadas
  • Estágio motorizado com cinco eixos para ajuste preciso da amostra
  • Suporte para amostras de até 2 kg e 200 mm de diâmetro
  • Detectores de alta sensibilidade, incluindo elétrons secundários (SED), elétrons retroespalhados (BSED) e detector de pressão variável (UVD)
  • Integração com espectrômetro de energia dispersiva (EDS) e detector de difração de elétrons retroespalhados (EBSD) (opcionais)

Aplicações do SU3800SE

  • Pesquisa científica e nanotecnologia: estudo de nanomateriais, nanotubos de carbono e polímeros avançados
  • Ciência dos materiais: caracterização de metais, cerâmicas e materiais compósitos
  • Indústria eletrônica: inspeção de microchips, circuitos integrados e PCB
  • Controle de qualidade industrial: análise de falhas em peças e materiais
  • Baterias e armazenamento de energia: estudo de eletrodos e separadores para baterias de íons de lítio
  • Indústria automotiva e aeroespacial: avaliação de revestimentos e falhas estruturais
  • Ciências ambientais e químicas: análise de partículas ambientais e materiais catalíticos

Alguma dúvida?

Tem alguma dúvida sobre os produtos e fabricantes? Precisa de um orçamento? Nossa equipe de consultores está à disposição para lhe ajudar. Clique no botão abaixo para receber nosso contato.