Análise elementar não destrutiva com a flexibilidade de uma ampla gama de tipos de amostras, com preparação mínima e sem necessidade de revestimento, ideais para: perícia criminal, controle de qualidade industrial, análises de materiais de eletrônica e de amostras geológicas. Os analisadores Orbis (Micro-EDXRF) incorporam a detecção rápida e simultânea multi-elemento de raios-X com a sensibilidade para analisar a partir de partes-por-milhão (ppm). Possibilitam realizar análises em pequenas amostras, com análises de imagem em amostras maiores, com todos os benefícios e simplicidade de um analisador XRF. Sistema de bancada, pode medir elementos de Na à Bk em condições ambientes ou em baixo vácuo.
Agora, você pode obter análises elementares não destrutivas avançadas com a flexibilidade para trabalhar em uma ampla gama de tipos…