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A microscopia de força atômica é uma técnica de análise que consiste na varredura da superfície de uma amostra com uma sonda a fim de obter sua imagem topográfica com resolução atômica, além de mapear certas propriedades mecânicas e físico-químicas dos materiais que as compõe.

Entre os microscópios eletrônicos que a dpUNION comercializa, fundamentais para realizar uma microanálise, está o Microscópio de Força Atômica (AFM). A série de AFMs da Hitachi traz precisão, qualidade, confiabilidade e praticidade em sua operação e manutenção, permitindo uma grande variedade de análises numa mesma plataforma. Por meio da função Auto Tuning, o microscópio de força atômica é capaz de monitorar a topografia da amostra, área de varredura e cantilever, determinando automaticamente a melhor condição de operação através de um único clique. Com o modelo AFM5300E, é possível fazer imagens com controle de atmosfera, possibilitando medidas em ar, líquido, alto vácuo, umidade controlada ou alta temperatura. 

Um produto muito interessante para caracterização de filmes é a Balança de Cristal de Quartzo com Monitoramento de Dissipação (QCM-D) da QSense, empresa do grupo Biolin Scientific, que fornece uma imagem completa das suas interações de superfícies moleculares e consegue monitorar e caracterizar filmes finos em termos de adsorção, dessorção, interações moleculares e propriedades estruturais. Com a tecnologia QCM-D, os parâmetros frequência e dissipação são monitorados simultaneamente, à medida que camadas moleculares se formam na superfície do sensor. Acesse o site da dpUNION, conheça as soluções da empresa e solicite um orçamento.