Microscópio eletrônico de varredura Schottky de ultra alta resolução SU7000
O FE-SEM moderno requer não apenas alto desempenho, mas também uma infinidade de funcionalidades, incluindo observação de área ampla, análise in-situ, pressão variável, geração de imagens de alta resolução em baixas tensões de aceleração e coleta simultânea de múltiplos sinais.
O SU7000 foi projetado para abordar esses aspectos e muito mais, fornecendo informações aprimoradas para necessidades diversificadas no campo da microscopia eletrônica.
Experimente o mundo nano com o SU7000!
Características
Conceito chave
1.Capacidade de imagem versátil
O SU7000 se destaca na aquisição rápida de vários sinais para atender às necessidades expansivas de SEM, desde a geração de imagens de um amplo campo de visão até a visualização de estruturas subnanométricas e tudo mais.
A incorporação de sistemas ópticos e de detecção de elétrons recém-projetados permite a aquisição simultânea eficiente de múltiplos sinais de elétrons secundários e de elétrons retroespalhados.
2.Imagiologia multicanal
O número de detectores montados no SEM está aumentando, juntamente com a necessidade de exibir todas as informações coletadas de forma eficaz.
O SU7000 é capaz de processar, exibir e salvar até 6 sinais simultaneamente para maximizar a aquisição de informações.
3. Grande Variedade de Técnicas de Observação
A câmara de amostra e o sistema de vácuo são otimizados para:
- Tamanho grande da amostra
- Manipulação de amostras em vários eixos
- Condições de pressão variável
- Condições criogênicas
- Observação in-situ de aquecimento e resfriamento
4. Microanálise
O canhão de elétrons é equipado com um emissor Schottky que fornece até 200 nA de corrente de feixe para acomodar várias aplicações de microanálise.
A câmara de amostra e o layout da porta foram projetados para incorporar várias opções analíticas, incluindo EDX, WDX, EBSD, catodoluminescência e muito mais.
O SU7000 com a combinação de vários acessórios analíticos unifica técnicas multidisciplinares em uma única plataforma.
Desempenho de imagem
Aquisição aprimorada de informações
O sistema de detecção avançado do SU7000 agiliza a aquisição de informações estruturais, topográficas, composicionais, cristalográficas e outros tipos de informações, minimizando as alterações nas condições do microscópio, como distância de trabalho ou tensão de aceleração.
Imagem multisinal de varredura única
Espécime: hastes de ouro com revestimento orgânico
Amostra cortesia de: Sr. Smart e Sra. Je Chemistry Dept.,
Vassar College
Aquisição simultânea de imagens para informações microestruturais de superfície (UD), revestimento de superfície (MD) e informações topográficas gerais (LD). Tensão de aceleração: 1 kV
Interface de usuário gráfica intuitiva
Exibição de sinal aprimorada
- Modos de exibição personalizáveis.
- Configurações de monitor único e duplo.
- Exibição simultânea de imagens de até 4 canais (simples) e 6 canais (dual).
- Câmara Scope e SEM MAP para navegação de palco óptico.
Layout de tela altamente flexível
O software é capaz de exibir 1, 2 ou 4 sinais, incluindo o escopo da câmara ou SEM MAP em um único monitor.
Além disso, o painel de operação pode ser personalizado para exibir submenus em qualquer lugar da tela.
Monitor duplo
O primeiro monitor pode ser usado como uma exibição de imagem dedicada enquanto o segundo monitor é utilizado para operação.
Cinco imagens de detectores (UD, LD, UVD, MD e PD-BSED) e SEM MAP de inclusões não metálicas em uma amostra de aço são exibidas (à esquerda).
A tela mostra o menu do painel de operação e a janela da imagem em miniatura em uma tela (à direita).
A configuração de monitor duplo suporta maior produtividade com espaço de trabalho expandido.
Grande câmara de amostras e palco grande
A câmara de amostra pode acomodar uma amostra de φ 200 mm e 18 portas acessórias. A platina grande viaja 135 mm (X) x 100 mm (Y) e pode aceitar até 2 kg de espécime.(*) Espécimes grandes ou tipos variáveis de subestágios podem ser facilmente montados na porta da platina grande com abertura frontal.
(*)a 0° de inclinação
Navegação da câmera(*)
O recurso de navegação da câmera correlaciona uma imagem óptica com a área de observação do alvo.
A câmera instalada na câmara do espécime captura a imagem do espécime no momento da introdução do espécime. A imagem é transferida para a tela SEM MAP para uma interface de navegação orientada graficamente.
A navegação da câmera suporta um máximo de amostra de φ 100 mm.
(*)A função de navegação da câmera é opcional
Sistema de Detecção que Permite a Observação Dinâmica
O SU7000 suporta observação em várias condições ambientais. Uma variedade de detectores (*), como UVD e MD, são selecionáveis além do PD-BSED para observação sob condições de baixo vácuo.
Seleção do Detector em Condições de Baixo Vácuo
Amostra: Fibra com óxido metálico
Esquerda: imagem MD (elétron retroespalhado)
Direita: UVD (imagem SE)
A dispersão do óxido e o estado de estratificação da fibra são observados, respectivamente.
Velocidade de resposta PD-BSED aprimorada
Esquerda: resposta PD-BSED tradicional na taxa de varredura de 30 ms x 64 quadros
Direita: imagem SU7000 PD-BSED demonstrando melhor resposta e qualidade de imagem para expandir a capacidade de observação in-situ.
Benefícios do Microscópio eletrônico de varredura
Depois de ver mais das características do Microscópio eletrônico de varredura SU7000, chegou o momento de aprender quais são os principais benefícios que esse equipamento proporciona. Quer conferir? Leia o conteúdo abaixo!
- Resolução nanométrica: caso trabalhe com demandas nanométricas, esse equipamento poderá te auxiliar, uma vez que ele irá possibilitar que analise todos os detalhes, permitindo a observação de estruturas extremamente pequenas;
- Excelente resolução das imagens: as imagens emitidas por esse equipamento possuem uma excelente resolução. Com isso, poderá ter uma visualização clara de amostras mais complexas;
- Ampla variedade de amostras: poderá fazer a avaliação de diferentes materiais, como sólidos, poliméricos e biológicos;
- Alta profundidade de foco: deseja analisar amostras tridimensionais? Com o Microscópio eletrônico de varredura SU7000 é possível. Ele possui a capacidade de obter imagens com profundidade de foco estendida, sendo extremamente útil para essa finalidade;
- Imagens em 3D: esse equipamento pode ser usado para criar reconstruções tridimensionais, fornecendo dados espaciais;
- Diversos funcionalidades: essa solução é utilizada em diversas áreas, como em pesquisas científicas, controle de qualidade e ciências da vida;
- Pesquisas avançadas: ele pode ser usado para o suporte de pesquisas avançadas, envolvendo nanotecnologia, ciência dos materiais e outras áreas de pesquisas;
- Contribui para avanços tecnológicos: ele desempenha um papel importante para o desenvolvimento de novas tecnologias. Isso ocorre devido à sua capacidade de caracterização dos materiais.
E aí, você deseja ter acesso a todos os benefícios mencionados acima? Lembrando que esses são apenas alguns dos inúmeros pontos positivos que o Microscópio eletrônico de varredura Schottky de ultra alta resolução SU7000 pode proporcionar, ok?
Sendo assim, para garantir essas vantagens, basta contar com esse equipamento em seu negócio. Por isso, não perca tempo e faça a sua encomenda agora mesmo. Certeza que não irá se arrepender, afinal, ele te ajudará em diversas demandas do dia a dia!
Especificações
| Resolução de imagem | Resolução SE | 0,8 nm @ 15 kV | |
| 0,9 nm @ 1 kV | |||
| Ampliação | 20～2.000.000 x | ||
| Óptica Eletrônica | Emissor | ZrO/W Emissor Schottky | |
| Tensão de Aceleração | 0,1～30 kV (etapa de 0,01 kV) | ||
| Sonda atual | máx. 200 nA | ||
| Detectores | Detectores padrão | UD (detector superior) | |
| MD (detector do meio) | |||
| LD (detector inferior) | |||
| Detectores Opcionais | PD-BSED (tipo de semicondutor) | ||
| UVD (detector de pressão ultra variável) | |||
| Modo de Pressão Variável (VP) (Opção) | Variação de pressão | 5～300 Pa | |
| Detectores disponíveis no modo VP | PD-BSED, UVD, UD, MD,LD | ||
| Estágio de Amostra | Controle de Palco | Acionamento por motor de 5 eixos | |
| Alcance móvel | x | 0～135mm | |
| Y | 0～100 mm | ||
| Z | 1,5～40 mm | ||
| T | -5～70° | ||
| R | 360° | ||
| Câmara de amostra | Tamanho da amostra | máx. φ200 mm, máx. 67 mm Altura | |
| Monitor (Opção) | LCD de 23 polegadas (1.920 × 1.080), suporta operação de dois monitores | ||
| Modo de Exibição de Imagem | Modo de Exibição em Tela Grande | 1.280 × 960 pixels | |
| Modo de Exibição de Imagem Única | 800 × 600 pixels | ||
| Modo de Exibição de Imagem Dupla | 800 × 600 pixels, 1.280 × 960 pixels com monitores duplos | ||
| Modo de exibição de imagem quádrupla | 640 × 480 pixels | ||
| Modo de exibição de imagem hexadecimal com monitores duplos | 640 × 480 pixels com monitores duplos | ||
| Salvamento de dados de imagem | Tamanho do pixel | 640 × 480, 1.280 × 960, 2.560 × 1.920, 5.120 × 3.840, 10.240 × 7.680 | |
| acessórios opcionais | Espectrômetro de raios-X dispersivos de energia (EDX) | ||
| Espectrômetro de raios X dispersivo de comprimento de onda (WDX) | |||
| Detector de difração retroespalhada de elétrons (EBSD) | |||
| Sistema de Catodoluminescência (CL) | |||
| Sistema de Transferência Criogênica | |||
| Compatível com vários tipos de sub-estágios | |||
Conclusão
Conseguiu entender mais sobre o Microscópio eletrônico de varredura Schottky de ultra alta resolução SU7000? Durante o conteúdo, te apresentamos mais sobre as características desse equipamento, permitindo que conheçam melhor e entenda suas funções, certo?
Além disso, neste artigo, também falamos a respeito dos benefícios proporcionados por ele. Sendo assim, caso queira garantir cada um deles, basta fazer a encomenda do produto.
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| Resolução de imagem | Resolução SE | 0,8 nm @ 15 kV | |
|---|---|---|---|
| 0,9 nm @ 1 kV | |||
| Ampliação | 20～2.000.000 x | ||
| Óptica Eletrônica | Emissor | ZrO/W Emissor Schottky | |
| Tensão de Aceleração | 0,1～30 kV (etapa de 0,01 kV) | ||
| Sonda atual | máx. 200 nA | ||
| Detectores | Detectores padrão | UD (detector superior) | |
| MD (detector do meio) | |||
| LD (detector inferior) | |||
| Detectores Opcionais | PD-BSED (tipo de semicondutor) | ||
| UVD (detector de pressão ultra variável) | |||
| Modo de Pressão Variável (VP) (Opção) | Variação de pressão | 5～300 Pa | |
| Detectores disponíveis no modo VP | PD-BSED, UVD, UD, MD,LD | ||
| Estágio de Amostra | Controle de Palco | Acionamento por motor de 5 eixos | |
| Alcance móvel | x | 0～135mm | |
| Y | 0～100 mm | ||
| Z | 1,5～40 mm | ||
| T | -5～70° | ||
| R | 360° | ||
| Câmara de amostra | Tamanho da amostra | máx. φ200 mm, máx. 67 mm Altura | |
| Monitor (Opção) | LCD de 23 polegadas (1.920 × 1.080), suporta operação de dois monitores | ||
| Modo de Exibição de Imagem | Modo de Exibição em Tela Grande | 1.280 × 960 pixels | |
| Modo de Exibição de Imagem Única | 800 × 600 pixels | ||
| Modo de Exibição de Imagem Dupla | 800 × 600 pixels, 1.280 × 960 pixels com monitores duplos | ||
| Modo de exibição de imagem quádrupla | 640 × 480 pixels | ||
| Modo de exibição de imagem hexadecimal com monitores duplos | 640 × 480 pixels com monitores duplos | ||
| Salvamento de dados de imagem | Tamanho do pixel | 640 × 480, 1.280 × 960, 2.560 × 1.920, 5.120 × 3.840, 10.240 × 7.680 | |
| acessórios opcionais | Espectrômetro de raios-X dispersivos de energia (EDX) | ||
| Espectrômetro de raios X dispersivo de comprimento de onda (WDX) | |||
| Detector de difração retroespalhada de elétrons (EBSD) | |||
| Sistema de Catodoluminescência (CL) | |||
| Sistema de Transferência Criogênica | |||
| Compatível com vários tipos de sub-estágios | |||
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