Microssonda SIMS para Análise Isotópica e de Elementos-traço em Alta Resolução Espacial

A NanoSIMS 50L é uma microssonda iônica exclusiva que otimiza o desempenho de análises da SIMS (Espectrômetro de Massa de Íons Secundários) em alta resolução lateral. Baseia-se em um projeto óptico coaxial do feixe de íons e na extração de íons secundários, e em um analisador de massa de setor magnético original com multicoleta.

A NanoSIMS 50L fornece simultaneamente as principais métricas de desempenho que só podem ser obtidas individualmente com qualquer outro instrumento ou técnica conhecida:

• Alta resolução espacial de análise (até 50 nanômetros)
• Alta sensibilidade (ppm na geração de imagem elementar)
• Alta Resolução de Massa (M/dM),
• Aquisição paralela de sete massas
• Aquisição rápida (modo CC, não pulsado)
• Análise de amostras eletricamente isolantes sem problemas.

E graças às recentes melhorias, a reprodutibilidade da razão isotópica de alguns décimos de permilagem agora já pode ser alcançada.

Outras áreas de aplicações

Microbiologia:
A NanoSIMS 50L abre novas possibilidades para a análise filogenética (com FISH ou El-FISH) e função metabólica (usando marcação isotópica estável) de células isoladas em estudos de comunidades microbianas mistas do ambiente.

Biologia celular:
A capacidade de resolução de 50 nm e razão isotópica da NanoSIMS 50L permitem a medição intracelular de acúmulos e fluxos de moléculas marcadas com isótopos estáveis

Geologia e ciências espaciais:
A NanoSIMS 50L permite medições isotópicas e elementares precisas de áreas submicrométricas profundas, grãos ou inclusões de partículas de poeira interplanetária, meteoritos e seções minerais. Ao trabalhar em várias configurações de copo de Faraday e com tamanho do ponto de alguns µm, o instrumento fornece medições da razão isotópica com precisão e reprodutibilidade externa de até alguns décimos de permilagem.

Pesquisa de Materiais:
Graças à sua alta sensibilidade em alta resolução de massa (sem interferência de massa), a NanoSIMS 50L permite obter imagens e quantificar elementos-traço (dopante) com a resolução lateral de 50 nm da SIMS, mesmo em materiais isolantes elétricos. Todos os elementos, exceto os gases nobres, são acessíveis, do hidrogênio ao plutônio.

O NanoSIMS 50L foi projetado originalmente pelo Prof. G. Slodzian da Universidade Paris-Sul, na França.