O SU9000 tem Sistema Ótico-Eletrônico único, a amostra fica entre as partes superior e inferior da peça polar da lente objetiva, garantindo resolução SE 0,4nm @30kV e 1,2nm @1kV sem necessidade de desaceleração ou 0,8nm com desaceleração.
O uso combinado do Filtro Super ExB com detector superior permite filtrar e coletar energia de sinal SE e LA-BSE, suprimindo artefatos de carga e mostrando detalhes topográficos, o detector superior recebe seletivamente sinais HA-BSE, fornecendo informações de topografia e diferenças de orientação cristalográfica. • EELS SU9000EA • F-STEM/DF-STEM • Câmera de Difração.