O mais avançado sistema de polimento por feixe de íons para a produção de seções transversais ou amostras planas de alta qualidade para microscopia eletrônica.

CARACTERÍSTICAS

Taxa de polimento de seção transversal: 1 mm/hora

O ArBlade 5000 é equipado com um canhão de íons de Ar de polimento rápido com uma taxa de polimento duas vezes mais alta para desempenho de ponta, reduzindo drasticamente o tempo de processamento para a preparação da seção transversal.

Larguras da seção transversal de até 8 mm

Para polimentos de grandes áreas, como aplicações de dispositivos eletrônicos, um design revolucionário de seção transversal foi desenvolvido para construção de áreas mais amplas.

Modelo híbrido: configuração de polimento duplo disponível

O novo sistema de polimento por feixe de íons é equipado com modos de seção transversal e polimento de superfície para as mais complexas necessidades de aplicação.

Equipado com vários suportes, o sistema ArBlade 5000 acomoda uma ampla gama de aplicações.

Polimento de seção transversal

Usado para produzir seções transversais mais largas e não distorcidas, sem aplicar tensão mecânica à amostra.

Polimento de superfície

Usado para remover artefatos da camada superficial e polimento final após técnicas tradicionais de polimento mecânico.

Unidade de resfriamento

As versões criogênicas do ArBlade 5000 fornecem resfriamento ativo da seção transversal durante o processamento da amostra. Um dewar de nitrogênio líquido conectado ao estágio de seção transversal remove efetivamente o calor induzido durante o polimento por feixe de íons da máscara de proteção e da amostra.

A unidade digital de controle de temperatura criogênica (CTC) permite que os operadores definam uma temperatura de resfriamento desejada, colocando um aquecedor e um sensor diretamente na máscara de blindagem de seção transversal para que a temperatura de processo desejada possa ser mantida com precisão.

Na conclusão do polimento criogênico, a amostra é suavemente aquecida até temperatura ambiente para evitar a formação de gelo ou condensação de água na superfície da amostra.

O resfriamento da amostra pode suportar o polimento de seção transversal sem danos em amostras altamente sensíveis à temperatura, como polímeros ou metais macios. No entanto, mesmo com o resfriamento ativo aplicado, é importante escolher os parâmetros de análise adequados para obter os melhores resultados. Isso é importante para amostras com baixa condutividade térmica porque o calor gerado no ponto de impacto do feixe de íons deve primeiro ser conduzido de forma eficaz para outras regiões da amostra. O ArBlade 5000 com CTC fornece altas correntes de feixe de íons, mesmo em voltagens mais baixas e é, portanto, ideal para esta e outras técnicas.