O Microscópio Eletrônico de Varredura por Emissão de Campo de Alta Resolução HITACHI SU5000: Uma Revolução no MEV

O Microscópio Eletrônico de Varredura por Emissão de Campo (MEV-FEG) HITACHI SU5000 transformou, de maneira definitiva, as operações de microscopia. Graças à sua tecnologia inovadora assistida por computador, conhecida como EM Wizard, o controle e a operação do equipamento atingem um novo patamar. Dessa forma, seja você um especialista ou iniciante, o resultado será sempre o mesmo: imagens em escala nano da mais alta qualidade, agora ao alcance de todos.

Principais Características do Microscópio Eletrônico de Varredura SU5000

O MEV-FEG HITACHI SU5000 oferece uma série de funcionalidades inovadoras, que não apenas elevam a eficiência, mas também aumentam a precisão na operação. Como resultado, o equipamento garante uma experiência excepcional para todos os usuários. A seguir, destacamos os principais recursos:

• Interface revolucionária: O EM Wizard proporciona níveis ideais de resolução, repetibilidade e rendimento. Assim, ele permite que iniciantes se tornem especialistas rapidamente, ao mesmo tempo em que otimiza o processo de operação.

• Auto-calibração inteligente: O sistema de ajuste automático do eixo restaura o microscópio para as “melhores condições” sob demanda. Consequentemente, isso assegura resultados consistentes e de alta qualidade, sem a necessidade de ajustes manuais.

• Câmara de amostra robusta e espaçosa: O design em estilo gaveta acomoda amostras de até 200 mm de diâmetro e 80 mm de altura, permitindo flexibilidade para trabalhar com diferentes tipos de amostras. Isso amplia as possibilidades de pesquisa e experimentação.

• Troca rápida de amostras: Graças ao sistema de evacuação eficiente, é possível realizar observações em menos de 3 minutos. Assim, o processo se torna mais ágil e otimizado, sem comprometer a qualidade.

• Otimização de imagens sob demanda: O sistema intuitivo e automatizado ajusta as imagens em tempo real, garantindo os melhores resultados possíveis, conforme as necessidades da amostra.

• Guia visual interativo: Modos pré-configurados garantem as melhores condições de operação para cada tipo de amostra. Dessa forma, o usuário pode selecionar facilmente o modo mais adequado, sem perder tempo.

• Ferramenta 3D MultiFinder: Permite inclinação e rotação das amostras sem perder o foco ou a centralização da imagem. Como resultado, o SU5000 oferece uma visualização completa e precisa das amostras.

Com todas essas características avançadas, o SU5000 se posiciona como o MEV-FEG de alta resolução ideal para usuários de todos os níveis, desde iniciantes até especialistas.

Aplicações do Microscópio Eletrônico de Varredura HITACHI SU5000

Graças à sua tecnologia de ponta, o MEV-FEG SU5000 possui uma ampla gama de aplicações em diversas áreas científicas e industriais. A seguir, destacamos algumas de suas principais áreas de aplicação:

Ciências da Vida: Imagens Ultra-Detalhadas de Amostras Biológicas

• Córtex Frontal de Rato: Imagem BSE a 2 kV (seção fina)
• Neurônio do Gânglio da Raiz Dorsal de Rato: Imagem SE a 5 kV

Essas imagens são cortesias do Professor Kubota, NIPS, Japão, e do Dr. Ushiki e Dr. Koga, da Universidade de Niigata (Asahikawa Medical University).

Ciência dos Materiais: Análise Avançada de Estruturas Nanométricas

• Nanotubos de Carbono de Múltiplas Paredes: Imagem adquirida a 500 V de energia de aterrissagem, Mag = 200kX
• Ímã de Neodímio: Imagem BSE a 2 kV

Além disso, o Detector de Elétrons de Backscatter (BSD) anular recentemente desenvolvido fornece informações topográficas e composicionais simultaneamente. A amostra é cortesia da Daido Steel.

Imagens In Situ com Estágio de Aquecimento

• Amostra: Filme fino de ouro em substrato de quartzo, HV = 10 kV

Esses espécimes são cortesias do Dr. Yoshino e Dr. Terano, Instituto de Tecnologia de Tóquio.

Análise 3D: Material de Bateria de Íon de Lítio

• Semicondutores: Investigação de Estruturas Nanométricas, incluindo imagens da Etapa Atômica e Deslocamento do Segmento de n-GaN em Si, HV = 15 kV, imagens BSE.

A amostra é cortesia do Professor Egawa, Centro de Pesquisa para Nanodispositivos e Sistemas, Instituto de Tecnologia de Nagoya, Japão.

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