Microscópio Eletrônico de Varredura de Bancada – Série TM4000 II – Hitachi

O futuro do MEV de Bancada está aqui!

A série TM4000 de Microscópios Eletrônicos de Varredura de Bancada da Hitachi, apresenta inovação e tecnologia de ponta que redefinem os recursos de um microscópio eletrônico de bancada.

Essa nova geração do MEV de bancada da Hitachi integra facilidade de uso, alta qualidade de imagem e o design compacto dos produtos já estabelecidos da série Hitachi TM.

Experimente a nova dimensão de MEV de bancada com o Hitachi TM4000 II e TM4000Plus II.

Recursos do MEV de bancada TM4000 II

Uma imagem de qualidade pode ser obtida com etapas simples neste Microscópio Eletrônico de Varredura!

 

Automação, Observação e Análise Elementar

Alterne imagens facilmente através de um clique.

 

Aquisição rápida de mapas elementares *²

Amostra: Movimento do relógio

* ¹   Imagens de elétrons secundárias e imagens tipo MIX só podem ser observadas no TM4000Plus II

* ²  Opcional

 

Operação intuitiva no Camera Navi *

O uso de imagens ópticas ajuda a navegar pela amostra para encontrar a área de interesse de observação facilmente.

As imagens obtidas por MEV podem ser colocadas em camadas em uma imagem SEM MAP.

Amostra: engrenagem de relógio

* Opcional: Sistema de Navegação por Câmera

 

Criador de relatórios

Muito mais praticidade com seu MEV Hitachi TM4000 II: basta selecionar imagens e um modelo para criar relatórios personalizados.

Os relatórios criados podem ser salvos e editados nos formatos Microsoft Office®.

 

MEV DE BANCADA COM PRESSÃO VARIÁVEL

A série de MEVs TM4000 II destaca-se por várias aplicações de geração de imagens usando baixo vácuo!

Modo de redução de carga

O MEV de bancada é simples de usar, e a carga na amostra pode ser reduzida de forma automática com apenas um clique!

 

Faça imagens de uma variedade de materiais sob condições de baixo vácuo com o MEV de bancada

As imagens mostram observações de amostras não condutoras, como partículas de toner de tinta e a superfície hidratada de uma folha.

 

Detector de elétrons secundários inovador para obter detalhes da superfície de amostras não condutoras em condições de baixo vácuo

O TM4000Plus II pode observar amostras condutoras e amostras não condutoras ou hidratadas sem preparação da amostra. A alternância entre BSE e SE pode ser realizada facilmente.

 

Detector SE de baixo vácuo e alta sensibilidade (UVD)

O UVD da Hitachi gera imagens de elétrons secundários, detectando a luz visível excitada pelas interações dos gases e elétrons.

 

 

Vantagens da tensão de aceleração de 20 kV

A alta tensão de aceleração permite análises EDS de alta velocidade.

Dados de mapeamento EDS a 20 kV em 2 minutos:

Amostra: Componentes eletrônicos

 

Multi Zigzag

Uma função que captura várias imagens de alta ampliação e as une para criar uma única imagem de alta resolução.

 

• Amostra: Japanese ancient coin
• Tensão de Aceleração: 15 kV
• Sinal de imagem: SE
• Magnificação: 30x
• Campo de visão: 10 verticalmente × 12 horizontalmente
  (algumas partes foram cortadas)

 

Suporte STEM (Opcional)

Obtenha facilmente imagens de transmissão de amostras ultrafinas

O suporte STEM recentemente desenvolvido pode ser utilizado na obtenção de imagens de transmissão utilizando o detector Hitachi UVD.

 

• Amostra: Abrasivo
• Tensão de Aceleração: 20 kV
• Sinal de imagem: (a) STEM, (b) BSE
• Magnificação: 10,000 x

UVD é uma função do TM4000Plus II.

 

 

Para conhecer outros microscópios da Hitachi, clique aqui.

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