Microscópio de Força Atômica MFP-3D Origin AFM para Caracterização em Nanoescala O Microscópio de Força Atômica MFP-3D Origin AFM da Oxford Instruments é uma solução avançada para análises em nanoescala, desenvolvida para laboratórios que necessitam de alta resolução, estabilidade e versatilidade analítica. Além disso, o equipamento oferece excelente desempenho para pesquisas acadêmicas, desenvolvimento de materiais